Name: Materials IQ: Herausforderungen der nachhaltigen technischen Bauteilreinigung
Start: 2025-06-18T13:50:00+02:00
End: 2025-06-18T17:20:00+02:00
Location: Switzerland Innovation, Park Innovaare

Technische Sauberkeit und definierte Oberflächeneigenschaften sind in Hightech-Prozessketten unabdingbar. Ständige Herausforderungen sind neben der Kosteneffizienz eine hohe Flexibilität bei komplexen Komponenten, sowie die heute geforderte Nachhaltigkeit der Prozesse.

ExpertInnen stellen Lösungsansätze, neue Reinigungsmedien, Verfahren und Konzepte vor. Wir tauschen uns aus und diskutieren Show Cases. Sie erweitern Ihr Wissen und gewinnen neue Kontakte.

Anmeldung: Bis 10. Juni 2025

Unkostenbeteiligung: Mitglieder NTN Innovative Surfaces frei, Nichtmitglieder CHF 100.- (exkl. MwSt.)

Rücktrittspolitik: Bis Anmeldeschluss Administrativgebühr CHF 50.-, danach volle Gebühr. Ersatzperson willkommen.

Programm/Ablauf

12:45	Eintreffen der Mitglieder und Gäste Mitgliederversammlung
13:00	Mitgliederversammlung Verein NTN Innovative Oberflächen Assemblee generale de l’association RTN surfaces innovantes Dr. Andreas Hafner, Dr. Jörg Güttinger
	Herausforderungen der nachhaltigen technischen Bauteilreinigung
13:50	Welcome & Introduction Robert Rudolph, Switzerland Innovation Park Innovaare Sustainable Cleaning processes in wafer based processing environment (clean rooms) Prof. Dr. Patrik Hoffmann, Empa / EPF Lausanne, Cyrille Hibert& Joffrey Pernollet, EPF Lausanne
14:30	Möglichkeiten & Grenzen des Atmosphärenplasmas zur Inlinereduktion & Applikation von haft-& dielektrischer Nanometerbeschichtungen Klaus Kresser, Plasmatreat Schweiz AG
14:50	Navigating the Fine Line of Clean in a World of High Standards and Delicate Components Beni Winet, KKS Ultraschall AG
15:10	Kaffeepause
15:40	Präzisionsreinigung von Wellenleitern für die Zündung des Kernfusionsplasmas am ITER Beat Fankhauser, Tiefbohrbär GmbH Prof. Dr. Thomas Jung, Paul Scherrer Institut PSI
16:05	Prüfung & Beurteilung der Sauberkeit von Medizinprodukten Dr. Roman Heuberger, RMS Foundation
16:30	Surface Cleanliness in the Nanometer Range: Exploring the Link Between Macroscopic and Microscopic Cleanliness Dr. Samuele Tosatti, Susos AG
16:55	Prüfung der Sauberkeit von Bauteilen und Oberflächen mit Laserscannern – Lückenlos, schnell, empfindlich Vivien Behrendt, Fraunhofer Institut für physikalische Messtechnik, IPM
17:20	Closing Remarks & Networking Apéro